XRF技术原理及其在科研新材料中的应用

发布时间:2020-10-19发布部门:分析测试中心

主题:   XRF技术原理及其在科研新材料中的应用主讲人:   熊佳星地点:   分析测试中心 5号学院楼B309室时间:   2020-10-22 13:00:00组织单位:   分析测试中心

主讲人简介:熊佳星,博士毕业于中国科技大学,现任Malvern Panalytical公司XRF产品经理,从事XRF分析测试、实验方法研究多年,在XRF分析领域积累了丰富的经验。

内容摘要:X射线荧光光谱分析法用于物质成分分析,是确定物质中元素种类和含量的一种方法。它适用性广,可以直接对块状、粉末、薄膜和液体样品进行无损分析;分析范围宽泛,可分析元素范围5B~95Am,理论上可以分析ppm~100%元素含量,广泛应用于材料、化工、环境、医药等领域。本报告主要介绍XRF技术的原理,在科研中的应用以及科研样品分析的难点等。

讲座主持:刘晓云

视频:   摄影: 撰写:周剑锋  信息员:周剑锋  编辑:高坤

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